Txina FCM2000W Ordenagailu mota Mikroskopio metalografikoa fabrika eta fabrikatzaileak |Chengyu

FCM2000W Ordenagailu motako mikroskopio metalografikoa

Zehaztapena

FCM2000W Sarrera

FCM2000W ordenagailu motako mikroskopio metalografikoa alderantzizko metalografiko mikroskopio trinokularra da, hainbat metal eta aleazio materialen egitura konbinatua identifikatzeko eta aztertzeko erabiltzen dena.Lantegietan edo laborategietan oso erabilia da galdaketa kalitatearen identifikaziorako, lehengaien ikuskapenerako edo materiala prozesatzeko ondoren.Egitura metalografikoen analisia, eta gainazaleko zenbait fenomenori buruzko ikerketa-lana, hala nola gainazaleko ihinztadura;Altzairuaren analisi metalografikoa, metal ez-burdinazko materialak, galdaketak, estaldurak, geologiaren analisi petrografikoak, eta konposatuen, zeramikazko eta abarren analisi mikroskopikoak ikerketa-bide eraginkorrak industria-eremuan.

Fokatze-mekanismoa

Beheko eskuaren posizioa fokatze-mekanismo lodia eta finkoa hartzen da, ezkerreko eta eskuineko alboetan doi daitekeena, doikuntza zehatza handia da, eskuzko doikuntza erraza eta erosoa da eta erabiltzaileak erraz lor dezake. eta irudi erosoa.Doikuntza trazu lodia 38 mm-koa da eta doikuntza finaren zehaztasuna 0,002koa da.

Plataforma mugikor mekanikoa

180 × 155 mm-ko eskala handiko plataforma hartzen du eta eskuineko posizioan ezartzen da, hau da, jende arruntaren funtzionamendu ohiturekin bat datorrena.Erabiltzailearen funtzionamenduan zehar, komenigarria da fokatze-mekanismoaren eta plataformaren mugimenduaren artean aldatzea, erabiltzaileei lan-ingurune eraginkorragoa eskainiz.

Argiztapen sistema

Epi-mota Kola argiztapen-sistema irekiera aldakorreko diafragma eta erdiko eremu erregulagarria duen diafragmarekin, tentsio zabal moldagarria 100V-240V, 5W distira handia eta bizitza luzeko LED argiztapena hartzen ditu.

FCM2000W Konfigurazio taula

Konfigurazioa		Eredua
Elementua	Zehaztapena	FCM2000W
Sistema optikoa	Aberrazio finituko sistema optikoa	·
behaketa-hodia	45°-ko okertu, behaketa-hodi trinokularra, pupilar arteko distantzia doitzeko tartea: 54-75 mm, izpiaren zatiketa erlazioa: 80:20	·
okularra	Eremu handiko planoko begi-puntua PL10X/18mm	·
	Eremu handiko planoko begi-puntu altua PL10X/18 mm-ko begikoa, mikrometroarekin	O
	Eremu handiko begi-puntu altua WF15X/13 mm-ko okularra, mikrometroarekin	O
	Eremu handiko begi-puntu altua WF20X/10mm, mikrometroarekin	O
Helburuak (Long Throw Plan Achromatic Objectives)	LMPL5X /0,125 WD15,5mm	·
	LMPL10X/0,25 WD8,7mm	·
	LMPL20X/0,40 WD8,8mm	·
	LMPL50X/0,60 WD5,1mm	·
	LMPL100X/0,80 WD2,00mm	O
bihurgailua	Barne kokatzea lau zuloko bihurgailua	·
bihurgailua	Barne kokatzea bost zuloko bihurgailua	O
Fokatze-mekanismoa	Fokatze-mekanismo koaxiala esku baxuko posizioan doikuntza latz eta finetarako, mugimendu lodiaren bira bakoitzeko trazua 38 mm-koa da;doikuntza finaren zehaztasuna 0,02 mm-koa da	·
Etapa	Hiru geruzako plataforma mugikor mekanikoa, eremua 180mmX155mm, eskuineko eskuko kontrola, trazua: 75mm × 40mm	·
lan mahaia	Metalezko eszena plaka (erdiko zuloa Φ12mm)	·
Epi-argiztapen-sistema	Epi-mota Kola argiztapen sistema, irekiera aldakorreko diafragmarekin eta erdiko eremu erregulagarria duen diafragmarekin, tentsio zabal moldagarria 100V-240V, 5W kolore epeleko LED argi bakarra, argiaren intentsitatea etengabe erregulagarria.	·
Epi-argiztapen-sistema	Epi-mota Kola argiztapen sistema, irekiera aldakorreko diafragmarekin eta erdiko eremu erregulagarria duen diafragmarekin, tentsio zabal moldagarria 100V-240V, 6V30W lanpara halogenoarekin, argiaren intentsitatea etengabe erregulagarria.	O
Osagarri polarizatzaileak	Polarizazio-plaka, analizatzaile-plaka finkoa, 360°-ko birakaria analizatzeko taula	O
kolore-iragazkia	Horia, berdea, urdina, izoztutako iragazkiak	·
Metalografiko Analisi Sistema	JX2016 analisi metalografikoko softwarea, 3 milioi kamera gailua, 0.5X egokitzaile lentearen interfazea, mikrometroa	·
ordenagailua	HP negozio-hegazkina	O

Ohar：“· "estandar;"O”aukerakoa

JX2016 softwarea

Irudi metalografikoen analisirako sistema kuantitatibo profesionalak konfiguratutako "irudi metalografikoen analisirako sistema eragile profesionala" prozesuak eta bildutako lagin-mapen denbora errealeko alderaketa, detekzioa, balorazioa, analisia, estatistikak eta irteera-txosten grafikoak.Softwareak gaur egungo irudien analisi teknologia aurreratua integratzen du, hau da, mikroskopio metalografikoaren eta analisi adimendunaren teknologiaren konbinazio ezin hobea da.DL/DJ/ASTM, etab.).Sistemak txinatar interfaze guztiak ditu, zehatzak, argiak eta funtzionatzeko errazak.Entrenamendu sinplea egin ondoren edo jarraibideen eskuliburuari erreferentzia egin ondoren, libreki funtziona dezakezu.Eta zentzu metalografikoa ikasteko eta eragiketak dibulgatzeko metodo azkarra eskaintzen du.

JX2016 Software Funtzioak

Irudiak editatzeko softwarea: hamar funtzio baino gehiago, hala nola, irudiak eskuratzea eta irudiak biltegiratzea;

Irudien softwarea: hamar funtzio baino gehiago, hala nola, irudia hobetzea, irudien gainjartzea, etab.;

Irudiak neurtzeko softwarea: neurtzeko dozenaka funtzio, hala nola perimetroa, azalera eta ehuneko edukia;

Irteera modua: datu-taularen irteera, histograma irteera, irudiak inprimatzeko irteera.

Software metalografiko dedikatuak:

Ale-tamainaren neurketa eta balorazioa (ale-mugaren erauzketa, ale-mugaren berreraikuntza, fase bakarra, fase bikoitza, ale-tamainaren neurketa, balorazioa);

Inklusio ez-metalikoen neurketa eta balorazioa (sulfuroak, oxidoak, silikatoak, etab. barne);

Perlita eta ferrita edukiaren neurketa eta balorazioa;burdina harikorraren grafitoaren nodularitatearen neurketa eta balorazioa;

Deskarburizazio geruza, karburatutako geruza neurtzea, gainazaleko estalduraren lodiera neurtzea;

Soldaduraren sakoneraren neurketa;

Altzairu herdoilgaitz ferritiko eta austenitikoen fase-area neurtzea;

Silizio primarioa eta silizio eutektikoa silizio handiko aluminio-aleazioko analisia;

Titanio aleazio materialaren azterketa... etab;

Konparaziorako ohiko erabiltzen diren metalezko ia 600 material metalografikoen atlasak ditu, analisi metalografikorako eta ikuskatzeko unitate gehienen baldintzak betetzen dituztenak;

Material berrien eta inportatutako kalifikazio-materialen etengabeko hazkundea ikusita, softwarean sartu ez diren materialak eta ebaluazio estandarrak pertsonalizatu eta sartu daitezke.