1. Mikroskopio metalografiko optikoaren eta indar atomikoaren mikroskopioaren diseinu integratua, funtzio indartsuak
2. Mikroskopio optikoa eta indar atomikoko mikroskopioa irudikatzeko funtzioak ditu, biak aldi berean funtziona ditzakete elkarri eragin gabe
3. Aire-ingurune arruntean, ingurune likidoan, tenperatura kontrolatzeko ingurunean eta gas geldoen kontrol-ingurunean lan egin dezake aldi berean
4. Laginak eskaneatzeko mahaia eta laser detektatzeko burua mota itxian diseinatuta daude, eta gas berezia barrutik bete eta isuri daiteke, zigilatzeko estalkia gehitu gabe.
5. Laser detektaketak bide optiko bertikala duen diseinua hartzen du, eta likidoaren azpian funtziona dezake gas-likidoaren erabilera bikoitzeko zunda-euskarriarekin.
6. Ardatz bakarreko disko lagina automatikoki zundara bertikalki hurbiltzen da, orratzaren punta laginarekiko perpendikularra eskaneatu dezan.
7. Motor bidez kontrolatutako presiodun piezoelektriko zeramikazko detekzio automatikoaren orratz elikatzeko metodo adimentsuak zunda eta lagina babesten ditu.
8. Handipen handiko kokapen optikoko sistema zunda eta laginak eskaneatzeko eremuaren kokapen zehatza lortzeko
9. Eskaner integratua zuzenketa ez-linealaren erabiltzaile-editorea, nanometroen karakterizazioa eta neurketaren zehaztasuna % 98 baino hobea
Zehaztapenak:
| Funtzionamendu modua | ukipen modua, sakatu modua |
| Aukerako modua | Marruskadura/Alboko indarra, anplitudea/fasea, indar magnetikoa/elektrostatikoa |
| indar-espektroaren kurba | FZ indar-kurba, RMS-Z kurba |
| XY eskaneatu barrutia | 50 * 50um, aukerakoa 20 * 20um, 100 * 100um |
| Z eskaneatu barrutia | 5um, aukerakoa 2um, 10um |
| Eskaneatzeko bereizmena | Horizontala 0,2 nm, bertikala 0,05 nm |
| Laginaren tamaina | Φ≤68mm, H≤20mm |
| Lagina etapa bidaia | 25*25 mm |
| Okular optikoa | 10X |
| Helburu optikoa | 5X/10X/20X/50X Plan Helburu Apokromatikoak |
| Argiztapen metodoa | LE Kohler Argiztapen Sistema |
| Fokatze optikoa | Eskuzko foku zakarra |
| Kamera | 5MP CMOS sentsorea |
| bistaratzea | 10,1 hazbeteko pantaila lauko pantaila grafikoarekin erlazionatutako neurketa funtzioarekin |
| Berokuntza ekipoak | Tenperatura kontrolatzeko tartea: giro-tenperatura ~ 250 ℃ (aukerakoa) |
| Bero eta hotza plataforma integratua | Tenperatura kontrolatzeko tartea: -20 ℃ ~ 220 ℃ (aukerakoa) |
| Eskaneatzeko abiadura | 0,6Hz-30Hz |
| Eskaneatzeko angelua | 0-360° |
| Ingurune operatiboa | Windows XP/7/8/10 sistema eragilea |
| Komunikazio Interfazea | USB2.0/3.0 |
